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太陽(yáng)能電池測(cè)量系統(tǒng)/光電測(cè)試IPCE

簡(jiǎn)要描述:CEL-QE/IPCE太陽(yáng)能電池測(cè)量系統(tǒng)/光電測(cè)試IPCE就是測(cè)量光伏材料在不同波長(zhǎng)光照條件下的光生電流、光導(dǎo)等。◆ 掃描光源波長(zhǎng)輸出范圍:300-2000nm Solar Cell Scan100不僅適合常規(guī)太陽(yáng)能電池的性能研究,而且適合各類(lèi)新型近紅外太陽(yáng)能電池材料性能的研究,真正實(shí)現(xiàn)了全光譜太陽(yáng)能電池性能一體化測(cè)試。

  • 產(chǎn)品型號(hào):CEL-QE/IPCE
  • 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
  • 更新時(shí)間:2020-08-06
  • 訪  問(wèn)  量:6652

詳細(xì)介紹

CEL-QE/IPCE太陽(yáng)能電池測(cè)量系統(tǒng)/光電測(cè)試IPCE說(shuō)明 
太陽(yáng)能電池(光伏材料)光譜響應(yīng)測(cè)試、量子效率QE(Quantum Efficiency)測(cè)試、光電轉(zhuǎn)換效率IPCE (Monochromatic Incident Photon-to-Electron Conversion Efficiency) 測(cè)試等。廣義來(lái)說(shuō),就是測(cè)量光伏材料在不同波長(zhǎng)光照條件下的光生電流、光導(dǎo)等。
 

CEL-QE/IPCE太陽(yáng)能電池測(cè)量系統(tǒng)/光電測(cè)試IPCE測(cè)試原理:

用強(qiáng)度可調(diào)的偏置光照射太陽(yáng)能電池,模擬其不同的工作狀態(tài),同時(shí)測(cè)量太陽(yáng)能電池在不同波長(zhǎng)的單色光照射下產(chǎn)生的短路電流,從而得到太陽(yáng)能電池的光譜響應(yīng)與量子效率。  

CEL-QE/IPCE
特點(diǎn) 

◆ 掃描光源波長(zhǎng)輸出范圍:300-2000nm 
Solar Cell Scan100不僅適合常規(guī)太陽(yáng)能電池的性能研究,而且適合各類(lèi)新型近紅外太陽(yáng)能電池材料性能的研究,真正實(shí)現(xiàn)了全光譜太陽(yáng)能電池性能一體化測(cè)試。 
◆ 獨(dú)有的垂直光路設(shè)計(jì) 
獨(dú)有的垂直光路設(shè)計(jì),被測(cè)樣品平面放置,不僅確保樣品的穩(wěn)定擺放,以保證測(cè)試的穩(wěn)定性,而且更適合染料敏化電池的測(cè)試。 
◆ JSC模擬計(jì)算功能 
◆ 時(shí)間穩(wěn)定度測(cè)試 
◆ 具有真空吸附及恒溫保持功能的樣品臺(tái)(選配件) 
◆ 測(cè)試光斑大小可調(diào),適用不同尺寸樣品的測(cè)試 
◆ 基于Windows的軟件: 
a) 自動(dòng)控制掃描、樣品切換、光柵切換和數(shù)據(jù)采集 
b) 測(cè)量光譜響應(yīng)度、反射率、內(nèi)量子效率、外量子效率、均勻度掃描等 
c) 數(shù)據(jù)導(dǎo)出及報(bào)表打印功能,數(shù)據(jù)導(dǎo)出格式支持Office、Origin、matlab等分析軟件 
◆ 多結(jié)以及多層膜電池的測(cè)試 
通過(guò)改變偏置光光強(qiáng),來(lái)飽和各結(jié)太陽(yáng)能電池,分析待測(cè)結(jié)太陽(yáng)能電池量子效率。
◆ 反射率測(cè)量 
系統(tǒng)提供鏡面反射與漫反射測(cè)試選件,提供您完整的反射率測(cè)試分析手段。 
偏置光平行光路 
積分球漫反射測(cè)量 
◆ 開(kāi)放式偏置光路 
偏置光路上預(yù)留光學(xué)元件的安裝位置,您可自由改變偏置光的條件,可用于對(duì)太陽(yáng)能電池缺陷做先期的分析。 
◆ 標(biāo)準(zhǔn)樣品臺(tái) 
適用于樣品尺寸相對(duì)固定的太陽(yáng)能電池片的量測(cè)??缮?jí)為變溫或恒溫樣品臺(tái)。 
◆ 變溫樣品臺(tái) 
在不同的溫度下測(cè)量太陽(yáng)能電池電流的輸出,對(duì)太陽(yáng)能電池在實(shí)際工作環(huán)境下是否存在缺陷做先期的分析。 
◆ 大面積太陽(yáng)能電池片(zui大156x156mm)的掃描檢測(cè),二維自動(dòng)平移系統(tǒng)可實(shí)現(xiàn)對(duì)電池樣品的各個(gè)位置做測(cè)量分析(選配件) 
1.量子效率均勻性分析 
2.反射率均勻性分析 
標(biāo)準(zhǔn)與變溫樣品臺(tái) 
電控掃描樣品臺(tái) 
斬波與連續(xù)兩種測(cè)試模式,可實(shí)現(xiàn)常規(guī)光電池以及慢響應(yīng)光電池的光譜響應(yīng)測(cè)試 
Solar Cell Scan 100 提供斬波模式QE/IPCE測(cè)量,可實(shí)現(xiàn)對(duì)多種太陽(yáng)電池的測(cè)試(DSSC, Organic, Amorphous silicon, Monocrystalline Silicon, Microcrystalline Silicon, Polycrystalline Silicon, CdTe, CIGS, GaAs),也提供連續(xù)模式配合暗室測(cè)量光電轉(zhuǎn)換較慢的太陽(yáng)能電池材料QE測(cè)量,如染料敏化與光化學(xué)太陽(yáng)能電池材料量子效率測(cè)量。

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